EMI近場測試是一種測試電子設(shè)備的電磁兼容性（EMC）的方法，它通過在設(shè)備周圍設(shè)置接近于設(shè)備工作狀態(tài)的電磁場來模擬設(shè)備運(yùn)行時的情況，然后通過測試設(shè)備的敏感性來評估設(shè)備的EMC。
這種測試通常用于評估設(shè)備的EMC設(shè)計，確定設(shè)備的故障和干擾源并指導(dǎo)設(shè)備的調(diào)整和維護(hù)。在EMI近場測試中，測試設(shè)備通常需要放置在一種類似于電磁屏蔽室的環(huán)境中，以確保測試環(huán)境的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。此外，測試儀器需要具備高度的靈敏度和準(zhǔn)確性，以確保準(zhǔn)確捕捉和測量局部電磁干擾信號。
EMI近場測試是可用于EMI排查的一種測量，因?yàn)樗灰鬁y試站點(diǎn)提供專門的條件就能查出能量源。然而，一致性測試是在遠(yuǎn)場中進(jìn)行的，而不是近場。人們通常不會使用遠(yuǎn)場，因?yàn)橛刑嗟淖兞孔屗兊脧?fù)雜起來：遠(yuǎn)場信號的強(qiáng)度不僅取決于源的強(qiáng)度，而且取決于輻射機(jī)制以及可能采取的屏蔽或?yàn)V波措施。
根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住，如果能觀察遠(yuǎn)場中的信號，那么應(yīng)該能看到近場中的相同信號。（然而，能觀察到近場中的信號而看不到遠(yuǎn)場中的相同信號是很可能的）
近場探針實(shí)際上就是設(shè)計用于拾取磁場（H場）或電場（E場）變化的天線。一般來說，近場探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。如果對用于測量H場和E場變化的探針不熟悉，那么了解一些近場探針設(shè)計和使用方法：
H場（磁場）探針具有獨(dú)特的環(huán)路設(shè)計，重要的是，H場探針的方向是有利于環(huán)路平面與待測導(dǎo)體保持一致的，這樣布置的環(huán)路可以使磁通量線直接穿過環(huán)路。
環(huán)路大小決定了靈敏度以及測量面積，因此在使用這類探針隔離能量源時必須十分小心。近場探針套件通常包含許多不同的環(huán)路大小，以便使用逐漸減小的環(huán)路尺寸來縮小測量面積。
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更新時間：2023-03-16 
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