1. CDM 器件充放電測(cè)試系統(tǒng)介紹

ES640 CDM 測(cè)試儀是 ESDEMC 公司研發(fā)的 CDM自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，環(huán)境封閉濕度可控。

1）符合 JS -002 -2018 標(biāo)準(zhǔn) CDM 測(cè)試（ FICDM ）；

2）*的 RP -CCDM Contact First CDM CCDM 測(cè)試方法（選配）；

3）可定制符合舊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) AEC -Q100-011C規(guī)定的測(cè)試配件（ FICDM ，DCDM ，選配）；

3）可定制包括 LI -CCDM 和CC -TLP在內(nèi)的其他 CCDM 測(cè)試配件（選）。

根據(jù)充電板尺寸， ES640現(xiàn)有兩個(gè)版本：  ES640 -150  和 ES640-300 ：

• ES640-150 ：標(biāo)準(zhǔn)型 CDM 測(cè)試儀。 充電板尺寸： 150*150mm，大充電壓為 2kV

• ES640 -300 ：定制型 CDM 測(cè)試儀。充電板尺寸： 300*300mm，大充電壓可達(dá) 4kV

2. RPES640 RP -CCDM 測(cè)試方法：

RP -CCDM 為ESDEMC*的 *的 CCDM 測(cè)試方法，通過放電模塊內(nèi)部的開關(guān)控制實(shí)現(xiàn)對(duì) DUT pin的放電

RP-CCDM 測(cè)試方法簡(jiǎn)介：

1) 待測(cè)器件充電前，放頭的 pogo pin先接觸被測(cè)管腳，放電模塊內(nèi)部開關(guān)處于斷狀態(tài)；

2) 對(duì)待測(cè)器件充電；

3) 放電模塊內(nèi)部開關(guān)閉合，被測(cè)管腳放電。

RP -CCDM 優(yōu)點(diǎn)：

? 放電模塊 阻抗為 1Ω（其他類似 CCDM 放電模式中，阻抗為 50Ω ），更匹配實(shí)際的和 JS -002 的CDM 放電情形；

? 在原有 JS -002 測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上， 只需更換放電模塊 （其他 CCDM 需要有 VF -TLP系統(tǒng)做支持）；

? 測(cè)試電壓范圍內(nèi) 更穩(wěn)定 ，不會(huì)發(fā)生待測(cè) pin腳和實(shí)際放電 pin腳不一致的情況；

? *符合 JS -002 對(duì)放電波形的要求。

3. CDM 器件充放電測(cè)試系統(tǒng)波形

測(cè)試條件   ：

• 根據(jù) JS -002 的要求，以下測(cè)試時(shí)標(biāo)準(zhǔn) CDM測(cè)試的電壓系數(shù)為 1.02 ，RP -CCDM測(cè) 試的電壓系數(shù)為 1.08 (i.e. TC500 * 1.02 = 510V) 。

• RP -CCDM 放電頭的圓盤阻為 1.030 Ω ，標(biāo)準(zhǔn) CDM 放電頭的圓盤阻為  1.026 Ω。

  ? 測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，圓盤電阻所接射頻回路帶寬為：18 GHz 同軸線 (4FT+ adapter + 2FT),18GHz 衰減器 , 10GHz(1dB Loss) TVS  保護(hù)器 , 6 GHz 示波器